半導體技術測試系統推薦——介電特性評估系統AMQ

計測產品推薦

電容器溫度特性評估系統

介電特性評估系統AMQ

“電容器溫度特性評估系統"是一個自動多通道系統,可將環境測試箱與測量和評估系統相結合，以便高效收集數據。

測試內容

*記錄的測量結果可以在圖形和列表中實時查看。

八個通道的數據可以顯示在一個圖表上。

可以根據偏好選擇要顯示的頻道。

產品性能

1、最多可自動測量128個通道

該系統可在不同溫度環境下測量多個通道的靜電容量(C)、損耗系數(D)和阻抗(Z)。

您可以選擇8個通道的倍數,最多128個通道。

2、圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據,包括不同溫度、頻率和時間下的電氣特性值和變化率，可通過各種圖形函數實時查看。

3、多測試模式

有三種測試模式可選:溫度特性評估測試、定值運行測試和頻率特性測試。

溫度特性評估測試

在此測試模式下,自動記錄特性數據,并與溫度同步變化,最多40步。

定值運行測試

該測試模式測量特定溫度環境下特性隨時間的變化,并自動記錄數據。

頻率特性評估測試

該測試模式自動記錄各種頻率下的特性數據,同時在特定溫度環境中改變頻率。

測試可與溫度特性評估測試或定值運行測試相結合。

SMD組件專用夾具(可選)

4、各種可選夾具可用于不同的測試樣品(可選)

除了用于SMD元件的專用夾具外,我們還提供針對分立器件形狀定制的夾具。

SMD組件專用夾具(可選)

規格

*測量數據取決于試樣和測試條件。