博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

吉時利全自動半導體參數分析儀4200A-SCS參數分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，有著較高的系統帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數。

同惠TH511半導體C-V特性分析儀TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產與研發的分析儀器。 TH510系列半導體C-V特性分析儀創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動 化集成測試及滿足實驗室研發及分析。