功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)

產品詳情

設備簡介

KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在3KV和1000/2000A的條件下實現精確測量和參數分析，漏電流測試分辨率高達fA，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。內置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構設計預留升級擴展潛能。測試接口可外掛各類夾具和適配器，還能夠通過專用接口連接各種Handler：如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。

適用產品

可測Si, SiC, GaN材料的IGBTs, DIODEs, LED, MOSFETs, BJTs, HEMTs, 電容，光耦，

參考標準

IEC 60747-8/9 半導體分立器件第8/9部分/JEDEC標準

設備特點

KC-3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)包 含 ： 硬 件 平 臺 + 實 時 軟 件 ， 可 測 試 靜態特性、IV 曲線、容阻測試（Rg、Cxss）、CV 曲線；，主要特點如下:

適用于功率器件、功率模塊直流特性分析，最高可達3000V/1000A在高達3000V直流偏置下，全自動化的電容（ Ciss、 Coss、Crss等）測量；

高效率：內置開關矩陣，自動切換測量單元，提高生產測試效率；

模塊化：根據測試需求搭配不同規格測量單元。

在線高低溫箱:選裝-50℃~﹢150℃(最高 200℃)專用高精度實時在線高低溫箱，支持 48 工位和 98 工位。圓形旋轉盤，溫度均勻性優秀選配溫控模塊也可與第三方溫箱實現聯動控制。

具備數據管理功能，上位機可實現數據曲線、報告及自動保存；

IV曲線：2K點以內的 IV 曲線實時掃描；

CV曲線：柵電阻 Rg、反向傳輸電容 Cres、輸入電容 Cies、輸出電容 Coes、CV 曲線。

軟件界面

軟件功能完備并高可擴展性，基于LINUX平臺開發，穩定高效、配備工控機。 保存與記錄試驗數據。

數據管理功能完整，具有操作界面與上位機，可實現數據自動保存與生成測試報告。

技術參數