Chroma致茂 19501-K局部放電測試器產品特色

·單機內建交流耐壓測試與局部放電偵測功能

·可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac

·高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA

·局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC

·高壓接觸檢查功能(HVCC)

·符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測試要求

·內建IEC60747-5-5測試方法

·量測與顯示單元分離式設計

·三段電壓測試功能

·PD測量結果數(shù)值顯示(pC)

·PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定(1~10)

·多語系繁中/簡中/英文操作介面

·USB畫面擷取功能

·圖形化輔助編輯功能

·標準LAN、USB、RS232遠端控制介面

Chroma致茂 19501-K局部放電測試器內建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial Discharge,PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0.1kV~10kV，漏電流測量范圍0.01μA~300μA，局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體元件與高絕緣材料測試應用所設計與開發(fā)。

Chroma 19501-K局部放電測試器產品設計符合IEC60270-1法規(guī)，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器(Narrowband)量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數(shù)值(pC)顯示在螢幕上讓使用者清楚明了待測物測試判定結果。

產品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法于儀器內部，滿足光耦合器產品生產測試需求，并提供使用者便利的操作介面。

于生產線上執(zhí)行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發(fā)生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。

Chroma高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產效率。

在固體絕緣物中含有氣隙或雜質混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態(tài)下，由于較高的電場強度集中于氣隙而產生局部放電(Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產品之長久信賴性，而引起安全事故。

應用于電源系統(tǒng)之安規(guī)元件，如光耦合器，因考量如果元件長時間發(fā)生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進而引發(fā)使用者人身安全問題;因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產過程中(Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電(Partial Discharae)檢測，在最大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之元件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產品品質與提升產品可靠度。

局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電，且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。

局部放電測試器對待測物施加一個特定條件下的電壓，測量其視在放電電荷量(PD)，除了驗證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力，同時也驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙，透過施加一個略高于元件最高額定工作電壓的局部放電電荷測試，用以檢驗電氣元件在正常工作電壓條件下之長久可靠性，但于實際生產上絕緣材料內部當然不可能無氣隙存在于絕緣材料內，故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC(9pd=5pC)。

絕緣固體內存在氣泡而產生局部放電說明

1.空氣的介電系數(shù)低于絕緣材介電系數(shù)，因此氣泡處電場強度會大于正常絕緣時之分壓

2.空氣可承受的電場強度又低于絕緣材，容易在氣泡處產生氣泡放電(Void Discharge)

Ca:絕緣介質其余部分的等效電容

Cc:氣隙等效電容

Cb:絕緣介質與氣隙串聯(lián)部分的等效電容