產品介紹

19305 Series繞線元件脈沖線圈測試儀，系列機種包含(Chroma 19305)單通道及(Chroma 19305-10)10通道輸出測試，最高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率提高放電檢測能力，10uH感量以上產品測試，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量(Flutter)及波形二階微分數(Laplacian)等判定方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。

繞線組件于生產檢測包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設計不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線圈層間短路測試有其必要性。

所謂的「繞線組件脈沖測試」基本上是以一「非破壞性」、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析/比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線組件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現繞線組件中各種潛在之缺陷，例如:層間短路、甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。

19305 Series繞線元件脈沖線圈測試儀系列為針對繞線組件測試需求所設計，利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與待測線圈形成RLC并聯諧振，由諧振之衰減波形，透過高速且精密的取樣處理分析技術，可檢驗出線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、電感等繞線產品進行層間短路測試，讓繞線組件生產廠商及用戶在質量驗證時，不但擁有可靠的測試質量，能更有效率為產品質量把關。

Chroma 19305-10對于產在線的測試需求提供多通道掃描應用(最大10通道)，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。

產品特色

●脈沖測試高取樣率(200MHz)

●6kV可程序脈沖測試

●崩潰電壓分析

●高速測試

●單機最大10通道掃描測試(19305-10)

●可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)

●繁中/簡中/英文操作接口

●USB波形儲存&畫面擷取功能

●圖形化彩色顯示

●標準LAN,USB,RS232接口

四種波形判定模式

·波形面積比較(Area Size)

·波形面積差比較(Differential Area)

·波形顫動總量(Flutter Value)

·波形二階微分數(Laplacian Value)