HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40

簡要描述：HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

C、D 2項目測試能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C

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品牌	HIOKI/日本日置

HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40

HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

C、D 2項目測試能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容測試源頻率: 120Hz, 1kHz 高速測量: 2ms RS-232C

HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40概要

● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

基本參數

測量參數	Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）
測量范圍	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本精度	（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D:±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數
測量頻率	120Hz, 1kHz
測量信號電平	恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
輸出電阻	5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）
顯示	發光二級管（6位表示，滿量程計算器根據量程而定）
測量時間	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
功能	BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源	AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA
體積及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1

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