布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡

布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡

分辨率成像-無論何時，不論哪次

完整的納米尺度定量信息

潛力無限–靈活，開放

超乎想象的簡單

使研究人員通過PeakForce Tapping®技術能夠隨時得到高分辨率的圖像。

在樣品上每個原子實現力掃描。

在感興趣的位置操作獲得高分辨率圖像。

點缺陷的高分辨三維尺寸和機械性能成像

通過快速輕敲，不降低效果的同時增加掃描速度

經由自適用掃描選項達到nm級粗糙度樣品上4倍速度的提升

在氧化硅片上快速輕敲

在ITO上快速輕敲

采用雙向掃描選項即刻實現成像速度翻倍

采用布魯克專有的高速探針，結合已知佳規程（BKM）可將掃描速度提高10倍

Fastscan-C Probe

完整的納米尺度定量信息

使研究人員能夠通過經常PeakForce Tapping®獲得高分辨率圖像。

可信的納米級粘彈性表征

以偽彩示意損耗模量，疊合以三維形貌數據。藍色區域有較高的損耗模量，紅色區域則較低，分別對應于聚苯乙烯（PS）基質和聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）摻入物。損失模量數據圖通過接觸共振原理的布魯克FASTForce Volume納米力學模式獲得。5微米掃描范圍，~ 590kHz, 256x256點采集。

間列聚丙烯疇（紫色）被聚甲基丙烯酸甲酯（藍綠色）基體包圍。在形貌數據上疊合模量數據可簡易地區分組分，顯示出間列聚丙烯薄片在PMMA基體中擴展。圖像尺寸8微米。

常規地獲得高質量力學性能數據

獲取納米力學和納米化學數據的高級AFM研究

在之前不可能研究的樣品上研究電學性能。

直立碳納米管的電流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。

左：通過PeakForce Capture™獲取原子級力立方，顯示垂直截面上單顆原子的位置。右：PeakForce Capture平均數據顯示出可溶解結構的的證據。

獲取整體力學數據，從而全面表征接觸力學機制。

實時研究原子化學信息。

峰值力輕敲高度像（左）和力曲線（右），顯示了表面原子排列以及在方解石和云母上樣品-探針間原子級相互作用的差異。

使研究人員通過PeakForce Tapping®技術獲得高分辨率圖像。

先使用已有的測量模式；如果沒有，創造一個。

左：手套箱中的原子力顯微鏡-拉曼聯用。右：光導AFM附件

在開放的平臺上直接進行改造， 與其它技術聯用。

直接控制軟件和硬件，選擇一個容易的方法：串行通訊端口，信號測試盒，Nanoman/Litho和力腳本等。

左：通過COM口連入NanoScope軟件的儀器集成實例。右：在C++中進行NanoScript編程

ScanAsyst® 圖像優化軟件，讓所有使用者能夠獲得專家級結果。

NanoScope®世界上被認可的，被引用多的原子力顯微鏡。

布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡技術細節：

Dimension^® Icon™優秀的圖像分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension^®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業地位，的Dimension^® Icon™是針尖掃描技術的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將其應用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優于高分辨小樣品臺AFM的開環噪音水平。全新設計的XYZ閉環掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現了更大的數據采集輸出量。

體驗

• *的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平一樣的低噪音水平，且具有*的掃描分辨率
• 極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級圖像
• 熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像

高效率

• XYZ閉環掃描器的*設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率
• 將十年的研發經驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。
• 高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置

全功能

• 針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
• 硬件和軟件技術的不斷創新，新開發的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質
• 用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數據分析