Spark 8000全譜直讀光譜儀,采用全息光柵,光柵焦距500mm,譜線范圍更寬,分辨率更高,可對(duì) Fe、A1、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn等金屬及其合金進(jìn)行快速精確的分析,滿足爐前快速定量分析及實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)要求。
SparkCCD 7000全譜直讀光譜儀,可對(duì)Fe、A1、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn等金屬及其合金進(jìn)行快速精確的分析,滿足爐前快速定量分析及實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)要求。
XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀,可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚,可選配自動(dòng)平臺(tái)實(shí)現(xiàn) XYZ 軸編程位移,實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守多點(diǎn)測(cè)量,測(cè)量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術(shù),解決了諸多業(yè)界難題。
XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機(jī)多用型光譜儀,應(yīng)用了*的 EFP 算法和微光聚集技術(shù),既保留了專(zhuān)用 測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
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